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Erschienen in:
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2013 | OriginalPaper | Buchkapitel

4. Intensities and Intensity Statistics

verfasst von : Mark Ladd, Rex Palmer

Erschienen in: Structure Determination by X-ray Crystallography

Verlag: Springer US

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Abstract

The measurement of the intensity of a diffracted X-ray beam can be carried out photographically, by camera techniques, but almost always today by quantum counting, with diffractometer instruments. We can measure either a peak intensity or an integrated intensity, the latter parameter being preferred for the expression of the intensity of X-ray reflection.

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Fußnoten
1
Elsewhere, R int is also called R m, R merge and R eq.
 
2
Not “non-centrosymmetric” and “centrosymmetric.”
 
Literatur
1.
See Bibliography, James (1958) International tables for X-ray crystallography, vol C. 2nd edn. (1999)
2.
3.
4.
Blessing RH (1995) Acta Crystallogr A51:33; idem J Appl Crystallogr 30:421 (1997)
5.
Tickle IJ (1975) Acta Crystallogr B31:329
6.
7.
See Bibliography, Ibers and Hamilton (1974)
8.
Hall SR, Subramanian V (1982) Acta Crystallogr A38:590; idem ibid A38:598 (1982)
9.
10.
French S, Wilson K (1978) Acta Crystallogr A34:517
11.
Robertson JM, White JG (1947) J Chem Soc 358
12.
13.
James RW (1958) Optical principles of the diffraction of X-rays: the crystalline state, vol 2. Bell, London
Metadaten
Titel
Intensities and Intensity Statistics
verfasst von
Mark Ladd
Rex Palmer
Copyright-Jahr
2013
Verlag
Springer US
Buch
Structure Determination by X-ray Crystallography

Print ISBN: 978-1-4614-3956-1

Electronic ISBN: 978-1-4614-3954-7

Copyright-Jahr: 2013

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-3954-7_4

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