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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2015

01.11.2015

International Round-Robin Study of the Thermoelectric Transport Properties of an n-Type Half-Heusler Compound from 300 K to 773 K

verfasst von: Hsin Wang, Shengqiang Bai, Lidong Chen, Alexander Cuenat, Giri Joshi, Holger Kleinke, Jan König, Hee Woong Lee, Joshua Martin, Min-Wook Oh, Wallace D. Porter, Zhifeng Ren, James Salvador, Jeff Sharp, Patrick Taylor, Alan J. Thompson, Y. C. Tseng

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2015

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Metadaten
Titel
International Round-Robin Study of the Thermoelectric Transport Properties of an n-Type Half-Heusler Compound from 300 K to 773 K
verfasst von
Hsin Wang
Shengqiang Bai
Lidong Chen
Alexander Cuenat
Giri Joshi
Holger Kleinke
Jan König
Hee Woong Lee
Joshua Martin
Min-Wook Oh
Wallace D. Porter
Zhifeng Ren
James Salvador
Jeff Sharp
Patrick Taylor
Alan J. Thompson
Y. C. Tseng
Publikationsdatum
01.11.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2015
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-015-4006-z

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