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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

1. Introduction: Reliability of MEMS

verfasst von : Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, Herbert R. Shea

Erschienen in: MEMS Reliability

Verlag: Springer US

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Abstract

The development of Micro-Electro Mechanical Systems (MEMS) and introduction of MEMS enabled products in the market have made amazing strides in the last two decades; fulfilling a vision of “cheap complex devices of great reliability”. MEMS are integrated micro-scale systems combining electrical, mechanical or other (magnetic, fluidic/thermal/etc.) elements typically fabricated using conventional semiconductor batch processing techniques that range in size from several nanometers to microns or even millimeters [1]. These systems are designed to interact with the external environment either in a sensing or actuation mode to generate state information or control it at a different scale.

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Fußnoten
1
“The world has arrived at an age of cheap complex devices of great reliability, and something is bound to come of it” – Dr. V. Bush (1945) [2].
 
2
Databeans estimate.
 
Literatur
Metadaten
Titel
Introduction: Reliability of MEMS
verfasst von
Allyson L. Hartzell
Mark G. da Silva
Herbert R. Shea
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer US
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-6018-4_1

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