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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 5/2020

14.02.2020

Investigation of the Effect of Thermal Annealing on the Electrical Properties of the Near-Surface Layer of MBE n-HgCdTe Using MIS Techniques

verfasst von: A. V. Voitsekhovskii, S. N. Nesmelov, S. M. Dzyadukh, V. S. Varavin, S. A. Dvoretsky, N. N. Mikhailov, G. Y. Sidorov, M. V. Yakushev, D. V. Marin

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 5/2020

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Metadaten
Titel
Investigation of the Effect of Thermal Annealing on the Electrical Properties of the Near-Surface Layer of MBE n-HgCdTe Using MIS Techniques
verfasst von
A. V. Voitsekhovskii
S. N. Nesmelov
S. M. Dzyadukh
V. S. Varavin
S. A. Dvoretsky
N. N. Mikhailov
G. Y. Sidorov
M. V. Yakushev
D. V. Marin
Publikationsdatum
14.02.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 5/2020
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-020-08005-0

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