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2012 | OriginalPaper | Buchkapitel

A Parameterless Line Segment and Elliptical Arc Detector with Enhanced Ellipse Fitting

verfasst von : Viorica Pătrăucean, Pierre Gurdjos, Rafael Grompone von Gioi

Erschienen in: Computer Vision – ECCV 2012

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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We propose a combined line segment and elliptical arc detector, which formally guarantees the control of the number of false positives and requires no parameter tuning. The accuracy of the detected elliptical features is improved by using a novel non-iterative ellipse fitting technique, which merges the algebraic distance with the gradient orientation. The performance of the detector is evaluated on computer-generated images and on natural images.

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Metadaten
Titel
A Parameterless Line Segment and Elliptical Arc Detector with Enhanced Ellipse Fitting
verfasst von
Viorica Pătrăucean
Pierre Gurdjos
Rafael Grompone von Gioi
Copyright-Jahr
2012
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-33709-3_41

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