2016 | OriginalPaper | Buchkapitel
More Powerful and Reliable Second-Level Statistical Randomness Tests for NIST SP 800-22
verfasst von : Shuangyi Zhu, Yuan Ma, Jingqiang Lin, Jia Zhuang, Jiwu Jing
Erschienen in: Advances in Cryptology – ASIACRYPT 2016
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
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