01.11.2011 | On the Jubilee of the Moscow State Technological University Stankin
Smart computer microscopy for measurement of linear and angular dimensions of work pieces
Erschienen in: Measurement Techniques | Ausgabe 8/2011
EinloggenAktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by