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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 2/2010

01.02.2010

Temperature Dependence of Creep and Hardness of Sn-Ag-Cu Lead-Free Solder

verfasst von: Y.D. Han, H.Y. Jing, S.M.L. Nai, L.Y. Xu, C.M. Tan, J. Wei

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 2/2010

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Metadaten
Titel
Temperature Dependence of Creep and Hardness of Sn-Ag-Cu Lead-Free Solder
verfasst von
Y.D. Han
H.Y. Jing
S.M.L. Nai
L.Y. Xu
C.M. Tan
J. Wei
Publikationsdatum
01.02.2010
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 2/2010
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-009-0970-5

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