Skip to main content
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 6/1997

01.06.1997

Molecular beam epitaxial growth and performance of integrated two-color HgCdTe detectors operating in the mid-wave infrared band

verfasst von: R. D. Rajavel, D. M. Jamba, J. E. Jensen, O. K. Wu, C. Le Beau, J. A. Wilson, E. Patten, K. Kosai, J. Johnson, J. Rosbeck, P. Goetz, S. M. Johnson

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 6/1997

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadaten
Titel
Molecular beam epitaxial growth and performance of integrated two-color HgCdTe detectors operating in the mid-wave infrared band
verfasst von
R. D. Rajavel
D. M. Jamba
J. E. Jensen
O. K. Wu
C. Le Beau
J. A. Wilson
E. Patten
K. Kosai
J. Johnson
J. Rosbeck
P. Goetz
S. M. Johnson
Publikationsdatum
01.06.1997
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 6/1997
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-997-0180-y

Weitere Artikel der Ausgabe 6/1997

Journal of Electronic Materials 6/1997 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt