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Journal of Materials Science

01.10.2002

Triple junction distribution profiles as assessed by electron backscatter diffraction

verfasst von: P. Davies, V. Randle, G. Watkins, H. Davies

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 19/2002

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Titel: Triple junction distribution profiles as assessed by electron backscatter diffraction
verfasst von: P. Davies
V. Randle
G. Watkins
H. Davies
Publikationsdatum: 01.10.2002
Verlag: Kluwer Academic Publishers
Erschienen in: Journal of Materials Science / Ausgabe 19/2002
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI: https://doi.org/10.1023/A:1020052306493

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