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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 9/2018

22.03.2018 | Topical Collection: 17th Conference on Defects (DRIP XVII)

Optical Characterizations of VCSEL for Emission at 850 nm with Al Oxide Confinement Layers

verfasst von: Merwan Mokhtari, Philippe Pagnod-Rossiaux, Francois Laruelle, Jean-Pierre Landesman, Alain Moreac, Christophe Levallois, Daniel T. Cassidy

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 9/2018

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Metadaten
Titel
Optical Characterizations of VCSEL for Emission at 850 nm with Al Oxide Confinement Layers
verfasst von
Merwan Mokhtari
Philippe Pagnod-Rossiaux
Francois Laruelle
Jean-Pierre Landesman
Alain Moreac
Christophe Levallois
Daniel T. Cassidy
Publikationsdatum
22.03.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 9/2018
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6221-x

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