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Erschienen in: Journal of Materials Science 2/2009

01.01.2009

Phase sensitivity of Raman spectroscopy analysis of CVD titania thin films

verfasst von: Song Wei Lu, Caroline Harris, Scott Walck, Mehran Arbab

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 2/2009

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Abstract

Photocatalytic titania thin films deposited on float glass by chemical vapor deposition were analyzed by transmission electron microscopy, atomic force microscopy, Raman spectroscopy, and X-ray diffraction. Raman spectroscopy results indicate its phase sensitivity in the presence of trace amount of anatase. This suggests a preferable method of using Raman spectroscopy to characterize mixed phases of titania thin films, especially when titania coatings are deposited on other crystalline oxide materials, for example, tin oxide.

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Metadaten
Titel
Phase sensitivity of Raman spectroscopy analysis of CVD titania thin films
verfasst von
Song Wei Lu
Caroline Harris
Scott Walck
Mehran Arbab
Publikationsdatum
01.01.2009
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 2/2009
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-008-3086-z

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