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Auszug

Zeiss präsentiert ein neues konfokales Laser Scanning Mikroskop für Materialanwendungen und Analysen in Forschung und Industrie. Es ermöglicht präzise dreidimensionale Bildaufnahmen von Strukturen und Oberflächen im Mikrometer-Maßstab. Die Kombination von konfokaler Fluoreszenzmikroskopie mit weiteren Kontrastmethoden in einem Instrument sorgt für hochpräzise Untersuchungen von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern mit einem Maximum an Information. Das System namens Zeiss LSM 800 bietet zudem die exakte Erfassung der 3D-Topographie von Strukturen im Nanometer-Bereich ohne Oberflächenkontakt. Dieses neue Mikroskop beinhaltet die neueste Version der ZEN-Bildaufnahmesoftware, die mit einer offenen Schnittstelle für Anwendungsentwicklung (OAD) einen Datenaustausch mit etablierter Analyse- und Forschungssoftware gewährleistet. Das Zusammenspiel von Optik und Software garantiert höchste Reproduzierbarkeit bei Messungen und ein Bildaufnahme-Assistent erleichtert die Bedienung und sorgt für standardisierte Aufnahmeparameter.

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