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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 1/2016

Open Access 01.01.2016

Reliability and Lifetime Prediction of Remote Phosphor Plates in Solid-State Lighting Applications Using Accelerated Degradation Testing

verfasst von: M. Yazdan Mehr, W. D. van Driel, G. Q. Zhang

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 1/2016

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Metadaten
Titel
Reliability and Lifetime Prediction of Remote Phosphor Plates in Solid-State Lighting Applications Using Accelerated Degradation Testing
verfasst von
M. Yazdan Mehr
W. D. van Driel
G. Q. Zhang
Publikationsdatum
01.01.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 1/2016
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-015-4120-y

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