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Erschienen in:
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2005 | OriginalPaper | Buchkapitel

Scanning

verfasst von : Enno Rey, Michael Thumann, Dominick Baier

Erschienen in: Mehr IT-Sicherheit durch Pen-Tests

Verlag: Vieweg+Teubner Verlag

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Im Kapitel „Scanning“ werden die Tools und Methoden vorgestellt, um gezielte und ausführliche Informationen zu den zu untersuchenden Systemen zusammenzustellen. Hierbei ist der richtige Einsatz der Tools massgeblich, aber auch die richtige Interpretation der gelieferten Ergebnisse.

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Metadaten
Titel
Scanning
verfasst von
Enno Rey
Michael Thumann
Dominick Baier
Copyright-Jahr
2005
Verlag
Vieweg+Teubner Verlag
Buch
Mehr IT-Sicherheit durch Pen-Tests

Print ISBN: 978-3-8348-2626-8

Electronic ISBN: 978-3-322-80257-6

Copyright-Jahr: 2005

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-322-80257-6_5