Skip to main content

2016 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. SOI-MOSFETs

verfasst von : Vinod Kumar Khanna

Erschienen in: Integrated Nanoelectronics

Verlag: Springer India

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Continuing the onward advancement from where the classical MOSFET failed to meet the expectations of Moore’s law, it was widely accepted that novel MOSFET structures were direly needed in order that the pace of the progress is not slackened. It was also evident that short-channel effects could only be obviated if the gate action could be strengthened so that the channel region is always under the solitary control of the gate. The advent of silicon-on-insulator technology came as a breakthrough to rescue the CMOS engineers. First partially-depleted silicon-on-insulator (SOI) MOSFETs entered the market followed by the fully-depleted MOSFET devices. The fully-depleted MOSFETs represent a cornerstone of technological transformation leading to downscaling to lower levels.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Anhänge
Nur mit Berechtigung zugänglich
Literatur
1.
Zurück zum Zitat Schmidt MA (1998) Wafer-to-wafer bonding for microstructure formation. Proc IEEE 86(8):1575–1585CrossRef Schmidt MA (1998) Wafer-to-wafer bonding for microstructure formation. Proc IEEE 86(8):1575–1585CrossRef
3.
Zurück zum Zitat Colinge JP (2004) Multiple-gate SOI devices. Solid State Electron 48:897–905CrossRef Colinge JP (2004) Multiple-gate SOI devices. Solid State Electron 48:897–905CrossRef
5.
Zurück zum Zitat Kim Y-B (2009) Review paper: Challenges for nanoscale MOSFETs and emerging nanoelectronics. Trans Electr Electron Mater 10(1):21 Kim Y-B (2009) Review paper: Challenges for nanoscale MOSFETs and emerging nanoelectronics. Trans Electr Electron Mater 10(1):21
6.
Zurück zum Zitat Vandana B (2013) Study of floating body effect in SOI technology. Int J Mod Eng Res (IJMER) 3(3):1817–1824 Vandana B (2013) Study of floating body effect in SOI technology. Int J Mod Eng Res (IJMER) 3(3):1817–1824
7.
Zurück zum Zitat Narayanan M, Al-Nashash H, Mazhari B et al. (2012) Analysis of kink reduction in SOI MOSFET using selective back oxide structure. Act Passive Electron Compon 2012: Article ID 565827, 9 p Narayanan M, Al-Nashash H, Mazhari B et al. (2012) Analysis of kink reduction in SOI MOSFET using selective back oxide structure. Act Passive Electron Compon 2012: Article ID 565827, 9 p
8.
Zurück zum Zitat Gili E, Kunz VD, de Groot CH (2004) Single, double and surround gate vertical MOSFETs with reduced parasitic capacitance. Solid-State Electronics 48:511–519CrossRef Gili E, Kunz VD, de Groot CH (2004) Single, double and surround gate vertical MOSFETs with reduced parasitic capacitance. Solid-State Electronics 48:511–519CrossRef
Metadaten
Titel
SOI-MOSFETs
verfasst von
Vinod Kumar Khanna
Copyright-Jahr
2016
Verlag
Springer India
DOI
https://doi.org/10.1007/978-81-322-3625-2_6

Neuer Inhalt