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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 8/2019

29.05.2019

Structural, Electronic and Optical Characterization of ZnO Thin Film-Seeded Platforms for ZnO Nanostructures: Sol–Gel Method Versus Ab Initio Calculations

verfasst von: Qais M. Al-Bataineh, A. M. Alsaad, A. A. Ahmad, A. Al-Sawalmih

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2019

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Metadaten
Titel
Structural, Electronic and Optical Characterization of ZnO Thin Film-Seeded Platforms for ZnO Nanostructures: Sol–Gel Method Versus Ab Initio Calculations
verfasst von
Qais M. Al-Bataineh
A. M. Alsaad
A. A. Ahmad
A. Al-Sawalmih
Publikationsdatum
29.05.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2019
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-019-07303-6

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