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Journal of Materials Science
Erschienen in: Journal of Materials Science 9/2006

01.05.2006

Structural investigation of Ge-Sb-Sn thin films using transmission electron microscopy

verfasst von: M. Naito, M. Ishimaru, Y. Hirotsu, M. Takashima, H. Matsumoto

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 9/2006

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Metadaten
Titel
Structural investigation of Ge-Sb-Sn thin films using transmission electron microscopy
verfasst von
M. Naito
M. Ishimaru
Y. Hirotsu
M. Takashima
H. Matsumoto
Publikationsdatum
01.05.2006
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 9/2006
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-006-7821-z

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