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Erschienen in:
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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

The Integrative Technology of Testability Design and Fault Diagnosis for Complex Electronic Information System

verfasst von : Leqing Ou, Fang Bai

Erschienen in: Artificial Intelligence in China

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Complex electronic system has complicated principal and excess amount of single equipment and malfunctions, which makes it difficult to run quick failure diagnosis and thus security was low. On the basis of directed graph model and correlation model, this paper explores the integrative technology of testability design and failure diagnosis for complex electronic information systems. Using vehicle electronic information system as an example establishes functional directed graph fault model and analyzes its testability, which provides reference for quick fault diagnosis.

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Literatur
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Metadaten
Titel
The Integrative Technology of Testability Design and Fault Diagnosis for Complex Electronic Information System
verfasst von
Leqing Ou
Fang Bai
Copyright-Jahr
2020
Verlag
Springer Singapore
Buch
Artificial Intelligence in China

Print ISBN: 978-981-15-0186-9

Electronic ISBN: 978-981-15-0187-6

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-15-0187-6_46

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    Bildnachweise