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2006 | OriginalPaper | Buchkapitel

Total Internal Reflection Ellipsometry: Monitoring of Proteins on Thin Metal Films

verfasst von : Michal Poksinski, Hans Arwin

Erschienen in: Proteins at Solid-Liquid Interfaces

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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A measurement technique based on ellipsometry performed under conditions of total internal reflection is presented here. This technique is called total internal reflection ellipsometry (TIRE). When extended with the surface plasmon resonance effect, TIRE becomes a powerful tool for monitoring protein adsorption on thin metal films. A brief description of TIRE is presented here together with some examples of measurement system setups. Two examples of applications are included, followed by a short presentation of possible future applications of TIRE.

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Metadaten
Titel
Total Internal Reflection Ellipsometry: Monitoring of Proteins on Thin Metal Films
verfasst von
Michal Poksinski
Hans Arwin
Copyright-Jahr
2006
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
DOI
https://doi.org/10.1007/3-540-32658-8_5

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.