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Optical and Quantum Electronics
Erschienen in: Optical and Quantum Electronics 2/2015

01.02.2015

Useful lifetime of white OLED under a constant stress accelerated life testing

verfasst von: Fu-Kwun Wang, Yi-Chen Lu

Erschienen in: Optical and Quantum Electronics | Ausgabe 2/2015

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Abstract

A constant stress accelerated life testing has been implemented to obtain the useful lifetime of white organic light emitting displays (OLEDs) based on the lognormal distribution. However, other distributions such as Weibull and log-logistic may offer a better fit for failure time data at each stress level. The mean time to failure (MTTF) of a white OLED at each stress level will be estimated by the best fit statistical model. A response model based on an inverse power (exponential) law for all MTTFs under different stress levels is then used to predict the useful lifetime of a white OLED under normal conditions. In addition, the confidence interval of MTTF for a white OLED is provided. The results show that the MTTF of a white OLED is about 15,912 h.
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Metadaten
Titel
Useful lifetime of white OLED under a constant stress accelerated life testing
verfasst von
Fu-Kwun Wang
Yi-Chen Lu
Publikationsdatum
01.02.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Optical and Quantum Electronics / Ausgabe 2/2015
Print ISSN: 0306-8919
Elektronische ISSN: 1572-817X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11082-014-9915-1

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