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2019 | OriginalPaper | Buchkapitel

Validation of Simulation Results on Coupled Problems

verfasst von : Rick Janssen, Renaud Gillon, Aarnout Wieers, Frederik Deleu, Hervé Guegnaud, Pascal Reynier, Wim Schoenmaker, E. Jan W. ter Maten

Erschienen in: Nanoelectronic Coupled Problems Solutions

Verlag: Springer International Publishing

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The Test Set for the Power-MOS Devices and RF-Circuitry, as described in Chapter [11], and the Measurements for RF-Amplifiers, Bond Wire Fusing and MOS Power Cells (see Chapter [18]) were used to validate simulation results of coupled problems by comparing with measurements, as well as by comparing to outcomes with other simulation tools (when possible, mostly without full coupling).

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Metadaten
Titel
Validation of Simulation Results on Coupled Problems
verfasst von
Rick Janssen
Renaud Gillon
Aarnout Wieers
Frederik Deleu
Hervé Guegnaud
Pascal Reynier
Wim Schoenmaker
E. Jan W. ter Maten
Copyright-Jahr
2019
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-30726-4_22

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.