nach oben

Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

130. X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering

verfasst von : Tetsuroh Shirasawa

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config

KI-gestützte Suche

Aus

Abstract

X-ray CTR scattering is a rod-shaped X-ray scattering appearing in the direction perpendicular to a crystalline surface (Fig. 130.1a) (Feidenhans’l in Surf Sci Rep 10:105–188, 1989[1]). Sharp truncation of the electron density of crystalline materials at the surface results in the CTRs.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 102.000 Bücher
über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Maschinenbau + Werkstoffe
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Maschinenbau + Werkstoffe

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Vorheriges Kapitel X-Ray-Aided Noncontact Atomic Force Microscopy

Nächstes Kapitel X-Ray Magnetic Circular Dichroism

Feidenhans’l, R.: Surface structure determination by X-ray diffraction. Surf. Sci. Rep. 10, 105–188 (1989)CrossRef

Robinson, I.K.: Crystal truncation rods and surface roughness. Phys. Rev. B 33, 3830–3836 (1986)CrossRef

Bloch, J.M.: Angle and index calculated for ‘z-Axis’ diffractometer. J. Appl. Cryst. 18, 33–36 (1985)CrossRef

Evans-Lutterodt, K.W., Tang, M.-T.: Angle Calculations for a ‘2 + 2’ surface X-ray diffractometer. J. Appl. Cryst. 28, 318–326 (1995)CrossRef

Vlieg, E.: A (2 + 3)-type surface diffractometer: mergence of the z-Axis and (2 + 2)-type geometries. J. Appl. Cryst. 31, 198–203 (1998)CrossRef

Matsushita, T., Takahashi, T., Shirasawa, T., Arakawa, E., Toyokawa, H., and Tajiri, H.: Quick measurement of crystal truncation rod profiles in simultaneous multi-wavelength dispersive mode. J. Appl. Phys. 110, (2011). 102209/1–102209/8CrossRef

Gustafson, J., Shipilin, M., Zhang, C., Stierle, A., Hejral, U., Ruett, U., Gutowski, O., Carlsson, P.-A., Skoglundh, M., Lundgren, E.: High-energy surface X-ray diffraction for fast surface structure determination. Science 343, 758–761 (2014)CrossRef

Willmott, P.R., Pauli, S.A., Herger, R., Schlepütz, C.M., Martoccia, D., Patterson, B.D., Delley, B., Clarke, R., Kumah, D., Cionca, C., and Yacoby, Y.: Structural basis for the conducting interface between LaAlO₃ and SrTiO₃. Phys. Rev. Lett. 99, 155502/1–155502/4 (2007)

Morisaki, H., Koretsune, T., Hotta, C., Takeya, J., Kimura, T., and Wakabayashi, Y.: Large surface relaxation in the organic semiconductor tetracne. Nat. Commun. 5, 5400/1–5400/6 (2014)

Titel: X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering
verfasst von: Tetsuroh Shirasawa
Verlag: Springer Singapore
Buch: Compendium of Surface and Interface Analysis
Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_130

Premium Partner

Marktübersichten

Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.

Zur Marktübersicht