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Erschienen in:
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2014 | OriginalPaper | Buchkapitel

A TVSOOPDE Model for Denoising Fringe Pattern in Electronic Speckle Pattern Interferometry

verfasst von : Si Yan, Xinjun Zhu, Chen Tang, Haiqing Yan

Erschienen in: Fringe 2013

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Electronic speckle pattern interferometry (ESPI) is a well-known, nondestructive, whole-field optical technique for measurement. It has been extensively investigated and widely used for deformation measurements in numerous fields. The deformation to be measured is coded in a fringe pattern. Computer-aided fringe analysis can be used for quantitatively evaluating deformation information. However ESPI fringe pattern is contaminated by heavy speckle noise, which makes the fringe analysis difficult.

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Metadaten
Titel
A TVSOOPDE Model for Denoising Fringe Pattern in Electronic Speckle Pattern Interferometry
verfasst von
Si Yan
Xinjun Zhu
Chen Tang
Haiqing Yan
Copyright-Jahr
2014
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Fringe 2013

Print ISBN: 978-3-642-36358-0

Electronic ISBN: 978-3-642-36359-7

Copyright-Jahr: 2014

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7_39