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1990 | ReviewPaper | Buchkapitel

VLSI design test problems

Erschienen in: A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimization Algorithms

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

Enthalten in: Professional Book Archive

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Metadaten
Titel
VLSI design test problems
Copyright-Jahr
1990
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimization Algorithms

Print ISBN: 978-3-540-53032-9

Electronic ISBN: 978-3-540-46327-6

Copyright-Jahr: 1990

DOI
https://doi.org/10.1007/3540530320_12

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