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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 8/2008

01.08.2008

Characterization of Mg-Doped AlInN Annealed in Nitrogen and Oxygen Ambients

verfasst von: A.T. Cheng, Y.K. Su, W.C. Lai, Y.Z. Chen, S.Y. Kuo

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 8/2008

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Metadaten
Titel
Characterization of Mg-Doped AlInN Annealed in Nitrogen and Oxygen Ambients
verfasst von
A.T. Cheng
Y.K. Su
W.C. Lai
Y.Z. Chen
S.Y. Kuo
Publikationsdatum
01.08.2008
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 8/2008
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-008-0496-2

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