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Erschienen in:

2022 | OriginalPaper | Buchkapitel

9. Circuits of Ordinary Capacitors

verfasst von : James U. Gleaton, David Han, James D. Lynch, Hon Keung Tony Ng, Fabrizio Ruggeri

Erschienen in: Fiber Bundles

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

In this chapter, we illustrate how the BD distributional behavior of ordinary capacitors affects that of a series circuit of such capacitors. In Sect. 9.1, we investigate the VBD of the circuit when the VBD distribution is Weibull. The parameters are based on the earlier analysis of Kim and Lee’s Figure 6 data for illustrative purposes even though the data is not for ordinary capacitors but for thin dielectrics.

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Bažant, Z. P., & Le, J.-L. (2017). Probabilistic mechanics of quasibrittle structures—strength, lifetime, and size effect. Cambridge University Press.CrossRefMATH

Kim, Y.-H., & Lee, J. C. (2004). Reliability characteristics of high-k dielectrics. Microelectronics Reliability, 44(2), 183–193.CrossRef

Le, J.-L. (2012). A finite weakest-link model of lifetime distribution of high-k gate dielectrics under unipolar AC voltage stress. Microelectronics Reliability, 52(1), 100–106.CrossRef

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Phoenix, S., & Tierney, L.-J. (1983). A statistical model for the time dependent failure of unidirectional composite materials under local elastic load-sharing among fibers. Engineering Fracture Mechanics, 18(1), 193–215.CrossRef

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Taylor, H. M. (1987). A model for the failure process of semicrystalline polymer materials under static fatigue. Probability in the Engineering and Informational Sciences, 1(2), 133–162.CrossRefMATH

Titel: Circuits of Ordinary Capacitors
verfasst von: James U. Gleaton
David Han
James D. Lynch
Hon Keung Tony Ng
Fabrizio Ruggeri
Verlag: Springer International Publishing
Buch: Fiber Bundles
Print ISBN: 978-3-031-14796-8

Electronic ISBN: 978-3-031-14797-5

Copyright-Jahr: 2022
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-031-14797-5_9

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