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Measurement Techniques

Erschienen in:

01.03.2012 | Optophysical Measurements

Combined Diophantine approximations and the analysis of the accuracy of multi-wavelength interferometers

verfasst von: A. V. Zabelin

Erschienen in: Measurement Techniques | Ausgabe 12/2012

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Abstract

A geometrical method of interpreting the method of exact fractions, used in multi-wavelength interferometry, is considered. Using the example of two-wavelength and three-wavelength interferometers, it is shown how one can redefine the mathematical model of the coincidence method in order to use it to calculate the error due to the finite accuracy of the exact fractions and of the measuring wavelengths. A relation between the theoretical-numerical problems of the combined Diophantine approximations and the problem of calculating the parameters of the method is indicated.

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Titel: Combined Diophantine approximations and the analysis of the accuracy of multi-wavelength interferometers
verfasst von: A. V. Zabelin
Publikationsdatum: 01.03.2012
Verlag: Springer US
Erschienen in: Measurement Techniques / Ausgabe 12/2012
Print ISSN: 0543-1972
Elektronische ISSN: 1573-8906
DOI: https://doi.org/10.1007/s11018-012-9897-y

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