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Erschienen in:
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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

1. Conventional Test Methods

verfasst von : Selahattin Sayil

Erschienen in: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

With shrinking sizes of devices and increasing chip densities, circuits have become so fast, compact, and inaccessible that the use of conventional methods based on mechanical probe has become limited and inadequate. The conventional test methods or the mechanical probe techniques used for functional and internal fault testing face increasingly difficult challenges. This chapter discusses these limitations of conventional methods and highlights the importance of alternative probing solutions to address the upcoming challenges.

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Literatur
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2.
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H.-H.S. Lee, K. Chakrabarty, Test challenges for 3D integrated circuits. IEEE Des. Test Comput. 26(5), 26–35 (2009)CrossRef
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B.S. Landman, R.L. Russo, On a pin versus block relationship for partitions of logic graphs. IEEE Trans. Comput. c-20(12), 1469–1479 (1971)CrossRef
6.
H.B. Bakoglu, Circuits, Interconnections, and Packaging for VLSI (Addison Wesley, Reading, 1990)
Metadaten
Titel
Conventional Test Methods
verfasst von
Selahattin Sayil
Copyright-Jahr
2018
Buch
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques

Print ISBN: 978-3-319-69672-0

Electronic ISBN: 978-3-319-69673-7

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7_1

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