Skip to main content
Erschienen in: Semiconductors 3/2018

01.03.2018 | Electronic Properties of Semiconductors

Deep Radiation-Induced Defect Centers Created by a Fast Neutron Flux in CdZnTe Single Crystals

verfasst von: S. V. Plyatsko, L. V. Rashkovetskyi

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 3/2018

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadaten
Titel
Deep Radiation-Induced Defect Centers Created by a Fast Neutron Flux in CdZnTe Single Crystals
verfasst von
S. V. Plyatsko
L. V. Rashkovetskyi
Publikationsdatum
01.03.2018
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 3/2018
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782618030181

Weitere Artikel der Ausgabe 3/2018

Semiconductors 3/2018 Zur Ausgabe

Electronic Properties of Semiconductors

Electrical Breakdown in Pure n- and p-Si

Physics of Semiconductor Devices

Optimal Doping of Diode Current Interrupters

Premium Partner