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Erschienen in: Semiconductors 7/2017

01.07.2017 | XV International Conference “Thermoelectrics and Their Applications—2016”, St. Petersburg, November 15–16, 2016

Dependence of the surface morphology of ultrathin bismuth films on mica substrates on the film thickness

verfasst von: A. N. Krushelnitckii, E. V. Demidov, E. K. Ivanova, N. S. Kablukova, V. A. Komarov

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 7/2017

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Metadaten
Titel
Dependence of the surface morphology of ultrathin bismuth films on mica substrates on the film thickness
verfasst von
A. N. Krushelnitckii
E. V. Demidov
E. K. Ivanova
N. S. Kablukova
V. A. Komarov
Publikationsdatum
01.07.2017
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 7/2017
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782617070211

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