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Erschienen in: Journal of Materials Science 18/2008

01.09.2008

Detailed investigation of ultrasonic Al–Cu wire-bonds: I. Intermetallic formation in the as-bonded state

verfasst von: M. Drozdov, G. Gur, Z. Atzmon, Wayne D. Kaplan

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 18/2008

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Abstract

Scanning and transmission electron microscopy were used to study intermetallic formation and the interface morphology in copper wire-bonds. The ends of copper wires were melted in air and in a protective environment to form wire-balls. The protective environment enabled formation of symmetrical and relatively defect-free copper balls, together with a smaller heat affected zone (in comparison with wires melted in air). Detailed morphological and compositional characterization of the Al–Cu as-bonded interface was conducted using scanning and transmission electron microscopy, on specimens prepared by focused ion beam milling. Discontinuous and non-uniform intermetallics were found in regions where high localized stress was introduced during the wire-bonding process. The main intermetallic phase was found to be Al2Cu.

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Literatur
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Zurück zum Zitat Harman G (1997) Wire bonding in microelectronics materials, processes, reliability and yield. McGraw-Hill Harman G (1997) Wire bonding in microelectronics materials, processes, reliability and yield. McGraw-Hill
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Metadaten
Titel
Detailed investigation of ultrasonic Al–Cu wire-bonds: I. Intermetallic formation in the as-bonded state
verfasst von
M. Drozdov
G. Gur
Z. Atzmon
Wayne D. Kaplan
Publikationsdatum
01.09.2008
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 18/2008
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-008-2954-x

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