01.08.2004 | Technical Papers
Development of a novel self-sensitive atomic force microscope for nondestructive measurement of micro vertical surfaces
Erschienen in: Microsystem Technologies | Ausgabe 5/2004
EinloggenAktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by