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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2012

01.06.2012

Electro-transport and structure of 1-2-3 HTSC single crystals with different plane defects topologies

verfasst von: R. V. Vovk, M. A. Obolenskii, Z. F. Nazyrov, I. L. Goulatis, A. Chroneos, V. M. Pinto Simoes

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 6/2012

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Abstract

In this work we study the structural and resistivity parameters of the 1-2-3 system HTSC single crystals by substituting yttrium to holmium and with a low (5%) aluminum doping. It was determined that in the case of non-stoichiometric samples, the structure of crystals, directly after the solution-melt growth, is close to tetragonal. In the process of additional oxygen saturation we observed a ferroelastic transition to orthorhombic phase, accompanied by the formation of a domain twin structure. The twin boundaries and the aluminum impurities are efficient scattering centers of normal carriers. At aluminum concentration y ≤ 0.5 the tweed structure is not formed.

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Metadaten
Titel
Electro-transport and structure of 1-2-3 HTSC single crystals with different plane defects topologies
verfasst von
R. V. Vovk
M. A. Obolenskii
Z. F. Nazyrov
I. L. Goulatis
A. Chroneos
V. M. Pinto Simoes
Publikationsdatum
01.06.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 6/2012
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-011-0582-8

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