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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 3/2019

18.12.2018 | 5th International Conference of Asian Union of Magnetics Societies

Enhanced Magnetic Properties in Ar+-Ion Beam-Bombarded MnBi Thin Films

verfasst von: X. Li, C.-H. Wu, Y.-J. Lee, Y.-L. Huang, C.-L. Huang, J.-L. Tsai, T.-H. Wu, T. Chen, J. van Lierop, K.-W. Lin

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 3/2019

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Metadaten
Titel
Enhanced Magnetic Properties in Ar+-Ion Beam-Bombarded MnBi Thin Films
verfasst von
X. Li
C.-H. Wu
Y.-J. Lee
Y.-L. Huang
C.-L. Huang
J.-L. Tsai
T.-H. Wu
T. Chen
J. van Lierop
K.-W. Lin
Publikationsdatum
18.12.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 3/2019
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-018-6825-1

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