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Physics of Metals and Metallography
Erschienen in: Physics of Metals and Metallography 1/2006

01.07.2006 | Thin Magnetic Films and Multilayers

Exchange bias investigations in FeMn based multilayers

verfasst von: V. K. Sankaranarayanan, S. M. Yoon, C. G. Kim, C. O. Kim

Erschienen in: Physics of Metals and Metallography | Sonderheft 1/2006

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Metadaten
Titel
Exchange bias investigations in FeMn based multilayers
verfasst von
V. K. Sankaranarayanan
S. M. Yoon
C. G. Kim
C. O. Kim
Publikationsdatum
01.07.2006
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Physics of Metals and Metallography / Ausgabe Sonderheft 1/2006
Print ISSN: 0031-918X
Elektronische ISSN: 1555-6190
DOI
https://doi.org/10.1134/S0031918X06130217

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