Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2013

01.06.2013

Graphene synthesis by thermal chemical vapor deposition using solid precursor

verfasst von: Mohsin Ahmed, Naoki Kishi, Ryo Sugita, Akiji Fukaya, Ishwor Khatri, JianBo Liang, Sharif Mohammad Mominuzzaman, Tetsuo Soga, Takashi Jimbo

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 6/2013

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

We report single layer to few layer graphene on polycrystalline nickel by chemical vapor deposition at ambient pressure using solid precursor, camphor. Investigating at a wide range of temperature, it was observed that 870 °C is better for the deposition of single layer graphene on nickel substrate. The percentage of single layer on the substrate reduced significantly with decreasing the deposition temperature. The full width half maximum of the synthesized single layer graphene was 21 cm−1 and Raman intensity ratio of 2D to G peak was almost nine. The film was transferred to insulating substrate and measured transmittance was 85 %. Raman spectroscopy, Raman mapping, SEM and UV–visible spectrometer measurement were performed for characterization.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat T. Ohta, A. Bostwick, T. Seyller, K. Horn, E. Rotenberg, Science 313, 951 (2006)CrossRef T. Ohta, A. Bostwick, T. Seyller, K. Horn, E. Rotenberg, Science 313, 951 (2006)CrossRef
2.
Zurück zum Zitat K.I. Bolotin, K.J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, H.L. Stormer, Solid State Comm. 146, 351 (2008)CrossRef K.I. Bolotin, K.J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, H.L. Stormer, Solid State Comm. 146, 351 (2008)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat S.V. Morozov, K.S. Novoselov, M.I. Katsnelson, F. Schedin, D.C. Elias, J.A. Jaszczak, A.K. Geim, Phys. Rev. Lett. 100, 016602 (2008)CrossRef S.V. Morozov, K.S. Novoselov, M.I. Katsnelson, F. Schedin, D.C. Elias, J.A. Jaszczak, A.K. Geim, Phys. Rev. Lett. 100, 016602 (2008)CrossRef
4.
5.
Zurück zum Zitat A.A. Balandin, S. Ghosh, W.Z. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrhan, F. Miao, C.N. Lau, Nano Lett. 8, 902 (2008)CrossRef A.A. Balandin, S. Ghosh, W.Z. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrhan, F. Miao, C.N. Lau, Nano Lett. 8, 902 (2008)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat K.S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S.Y. Lee, J.M. Kim, K.S. Kim, J.H. Ahn, P. Kim, J.Y. Choi, B.H. Hong, Nature 457, 706 (2009)CrossRef K.S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S.Y. Lee, J.M. Kim, K.S. Kim, J.H. Ahn, P. Kim, J.Y. Choi, B.H. Hong, Nature 457, 706 (2009)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat H.A. Becerril, J. Mao, Z. Liu, R.M. Stoltenberg, Z. Bao, Y. Chen, ACS Nano 2, 463 (2008)CrossRef H.A. Becerril, J. Mao, Z. Liu, R.M. Stoltenberg, Z. Bao, Y. Chen, ACS Nano 2, 463 (2008)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat V.P. Verma, S. Das, I. Lahiri, W. Choi, Appl. Phys. Lett. 96, 203108 (2010)CrossRef V.P. Verma, S. Das, I. Lahiri, W. Choi, Appl. Phys. Lett. 96, 203108 (2010)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat S. Garaj, W. Hubbard, J.A. Golovchenko, Appl. Phys. Lett. 97, 183103 (2010)CrossRef S. Garaj, W. Hubbard, J.A. Golovchenko, Appl. Phys. Lett. 97, 183103 (2010)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat J.J. Lander, H.E. Kern, And A. L. Beach. J. Appl. Phys. 23, 1305 (1952)CrossRef J.J. Lander, H.E. Kern, And A. L. Beach. J. Appl. Phys. 23, 1305 (1952)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat Y. Miyata, K. Kamon, K. Ohashi, R. Kitaura, M. Yoshimura, H. Shinohara, Appl. Phys. Lett. 96, 263105 (2010)CrossRef Y. Miyata, K. Kamon, K. Ohashi, R. Kitaura, M. Yoshimura, H. Shinohara, Appl. Phys. Lett. 96, 263105 (2010)CrossRef
14.
Zurück zum Zitat X. Li, C.W. Magnuson, A. Venugopal, J. An, J.W. Suk, B. Han, M. Borysiak, W. Cai, A. Velamakanni, Y. Zhu, L. Fu, E.M. Vogel, E. Voelkl, L. Colombo, R.S. Ruoff, Nano. Lett. 10, 4328 (2010)CrossRef X. Li, C.W. Magnuson, A. Venugopal, J. An, J.W. Suk, B. Han, M. Borysiak, W. Cai, A. Velamakanni, Y. Zhu, L. Fu, E.M. Vogel, E. Voelkl, L. Colombo, R.S. Ruoff, Nano. Lett. 10, 4328 (2010)CrossRef
15.
Zurück zum Zitat A. Srivastava, C. Galande, L. Ci, L. Song, C. Rai, D. Jariwala, K.F. Kelly, P.M. Ajayan, Chem. Mater. 22, 3457 (2010)CrossRef A. Srivastava, C. Galande, L. Ci, L. Song, C. Rai, D. Jariwala, K.F. Kelly, P.M. Ajayan, Chem. Mater. 22, 3457 (2010)CrossRef
16.
Zurück zum Zitat G. Kalita, M. Matsushima, H. Uchida, K. Wakita, M. Umeno, J. Mater. Chem. 20, 9713–9717 (2010)CrossRef G. Kalita, M. Matsushima, H. Uchida, K. Wakita, M. Umeno, J. Mater. Chem. 20, 9713–9717 (2010)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat I. Vlassiouk, S. Smirnov, I. Ivanov, P.F. Fulvio, S. Dai, H. Meyer, M. Chi, D. Hensley, P. Datskos, N.V. Lavrik, Nanotechnology 22, 275716 (2011)CrossRef I. Vlassiouk, S. Smirnov, I. Ivanov, P.F. Fulvio, S. Dai, H. Meyer, M. Chi, D. Hensley, P. Datskos, N.V. Lavrik, Nanotechnology 22, 275716 (2011)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat Y. Zhang, L. Gomez, F.N. Ishikawa, A. Madaria, K. Ryu, C. Wang, A. Badmaev, C. Zhou, J. Phys. Chem. Lett. 1, 3101–3107 (2010)CrossRef Y. Zhang, L. Gomez, F.N. Ishikawa, A. Madaria, K. Ryu, C. Wang, A. Badmaev, C. Zhou, J. Phys. Chem. Lett. 1, 3101–3107 (2010)CrossRef
19.
Zurück zum Zitat A.C. Ferrari, J.C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K.S. Novoselov, S. Roth, A.K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97, 187401 (2006)CrossRef A.C. Ferrari, J.C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K.S. Novoselov, S. Roth, A.K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97, 187401 (2006)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat O. Frank, M. Mohr, J. Maultzsch, C. Thomsen, I. Riaz, R. Jalil, K.S. Novoselov, G. Tsoukleri, J. Parthenios, K. Papagelis, L. Kavan, C. Galiotis, Am. Chem. Soci 5, 2231 (2011) O. Frank, M. Mohr, J. Maultzsch, C. Thomsen, I. Riaz, R. Jalil, K.S. Novoselov, G. Tsoukleri, J. Parthenios, K. Papagelis, L. Kavan, C. Galiotis, Am. Chem. Soci 5, 2231 (2011)
22.
Zurück zum Zitat S. Mikhailov (ed.), Physics and Applications of Graphene (Theory, InTech, 2011) S. Mikhailov (ed.), Physics and Applications of Graphene (Theory, InTech, 2011)
23.
24.
Zurück zum Zitat Q. Yu, J. Lian, S. Siriponglert, H. Li, Y.P. Chen, S.S. Pei, Appl. Phys. Lett 93, 113103 (2008)CrossRef Q. Yu, J. Lian, S. Siriponglert, H. Li, Y.P. Chen, S.S. Pei, Appl. Phys. Lett 93, 113103 (2008)CrossRef
Metadaten
Titel
Graphene synthesis by thermal chemical vapor deposition using solid precursor
verfasst von
Mohsin Ahmed
Naoki Kishi
Ryo Sugita
Akiji Fukaya
Ishwor Khatri
JianBo Liang
Sharif Mohammad Mominuzzaman
Tetsuo Soga
Takashi Jimbo
Publikationsdatum
01.06.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 6/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1073-x

Weitere Artikel der Ausgabe 6/2013

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2013 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt