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2014 | OriginalPaper | Buchkapitel

Growth and Characterization of MOCVD grown InP Quantum Dots on Si for Monolithic Integration

verfasst von : Nripendra N. Halder, Souvik Kundu, Rabibrata Mukherjee, D. Biswas, P. Banerji

Erschienen in: Physics of Semiconductor Devices

Verlag: Springer International Publishing

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Integration of III-V based optoelectronics with Si microelectronics is one of the basic needs for next generation low cost monolithically integrated circuits. InP quantum dots (QDs) has been grown on Si substrate as a step for the integration of III-V based optoelectronics on Si. In this paper the growth details and the properties of the dots has been discussed. The luminescence property of the QDs has been analyzed with the help of the band alignment of the nano heterojunction. The carrier confinement mechanism has been discussed as well.

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Metadaten
Titel
Growth and Characterization of MOCVD grown InP Quantum Dots on Si for Monolithic Integration
verfasst von
Nripendra N. Halder
Souvik Kundu
Rabibrata Mukherjee
D. Biswas
P. Banerji
Copyright-Jahr
2014
Verlag
Springer International Publishing
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-03002-9_165