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Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 16/2018

01.12.2018 | 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION

Growth of Textured Au–Fe/Fe Hybrid Nanocrystals on Oxidized Silicon Surface

verfasst von: I. A. Tarasov, T. E. Smolyarova, I. A. Yakovlev, N. N. Kosyrev, V. A. Komarov, I. V. Nemtsev, S. N. Varnakov, S. G. Patrin, S. G. Ovchinnikov

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 16/2018

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Abstract

We present in this report the route to produce highly-textured Au3Fe(111)/Fe(110) hybrid nanocrystals on an amorphous surface of SiO2/Si by molecular beam epitaxy. By controlling the quantity of Au atoms deposited onto the SiO2/Si it is possible to tune the average lateral size of resultant Au–Fe hybrid nanocrystals from 10–20 nm up to 100–150 nm at the same Fe nominal thickness deposited. This process is sensitive to the initial density and size of Au islands. Examination of Au–Fe hybrid nanocrystals obtained was carried out using X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, reflection high energy electron diffraction, and Kerr effect methods.
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Metadaten
Titel
Growth of Textured Au–Fe/Fe Hybrid Nanocrystals on Oxidized Silicon Surface
verfasst von
I. A. Tarasov
T. E. Smolyarova
I. A. Yakovlev
N. N. Kosyrev
V. A. Komarov
I. V. Nemtsev
S. N. Varnakov
S. G. Patrin
S. G. Ovchinnikov
Publikationsdatum
01.12.2018
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 16/2018
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782618160364

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