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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

15. Handling of Thin Dies with Emphasis on Chip-to-Wafer Bonding

verfasst von : Fabian Schnegg, Hannes Kostner, Gernot Bock, Stefan Engensteiner

Erschienen in: Ultra-thin Chip Technology and Applications

Verlag: Springer New York

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Abstract

Thin dies with all their advantages bear various new challenges for die handling during die attach or flip-chip processes. The changed properties, like increased brittleness as well as higher flexibility of the dies, have to be addressed accordingly with new concepts for effective detachment from the wafer tape, low stress handling during transfer and adhesion processes that need to be chosen more carefully for each application. In this chapter various ejection principles and handling tool examples are described together with a few product applications that have gained in importance for mass production because of the development towards ultra-thin dies. Three-dimensional integration using through silicon vias and dies embedded in polymer are two examples of applications that became possible only by the introduction of thin dies.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Ostmann A, Kriechbaum A, De Baets J, Kostner H (2005) Chip embedding in printed circuit board production. IMAPS Nordic Conference 2005, Tønsberg, Norway Ostmann A, Kriechbaum A, De Baets J, Kostner H (2005) Chip embedding in printed circuit board production. IMAPS Nordic Conference 2005, Tønsberg, Norway
2.
Zurück zum Zitat Pozder S, Jain A, Chatterjee R, Huang Z, Jones RE, Acosta E, Marlin B, Hillmann G, Sobczak M, Kreindl G, Kanagavel S, Kostner H, Pargfrieder, S (2008) 3D die-to-wafer Cu/Sn microconnects formed simultaneously with an adhesive dielectric bond using thermal compression bonding. IITC 2008, Colombo, Srilanka Pozder S, Jain A, Chatterjee R, Huang Z, Jones RE, Acosta E, Marlin B, Hillmann G, Sobczak M, Kreindl G, Kanagavel S, Kostner H, Pargfrieder, S (2008) 3D die-to-wafer Cu/Sn microconnects formed simultaneously with an adhesive dielectric bond using thermal compression bonding. IITC 2008, Colombo, Srilanka
3.
Zurück zum Zitat Scheiring C, Kostner H, Lindner P, Pargfrieder S (2004) Flip chip-to-wafer stacking: Enabling technology for volume production of 3D system integration on wafer level. IMAPS Conference 2004, Long Beach, California, US Scheiring C, Kostner H, Lindner P, Pargfrieder S (2004) Flip chip-to-wafer stacking: Enabling technology for volume production of 3D system integration on wafer level. IMAPS Conference 2004, Long Beach, California, US
Metadaten
Titel
Handling of Thin Dies with Emphasis on Chip-to-Wafer Bonding
verfasst von
Fabian Schnegg
Hannes Kostner
Gernot Bock
Stefan Engensteiner
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer New York
DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7276-7_15

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