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Erschienen in: Nano Research 9/2020

Open Access 21.06.2020 | Research Article

High resolution strain mapping of a single axially heterostructured nanowire using scanning X-ray diffraction

verfasst von: Susanna Hammarberg, Vilgailė Dagytė, Lert Chayanun, Megan O. Hill, Alexander Wyke, Alexander Björling, Ulf Johansson, Sebastian Kalbfleisch, Magnus Heurlin, Lincoln J. Lauhon, Magnus T. Borgström, Jesper Wallentin

Erschienen in: Nano Research | Ausgabe 9/2020

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Metadaten
Titel
High resolution strain mapping of a single axially heterostructured nanowire using scanning X-ray diffraction
verfasst von
Susanna Hammarberg
Vilgailė Dagytė
Lert Chayanun
Megan O. Hill
Alexander Wyke
Alexander Björling
Ulf Johansson
Sebastian Kalbfleisch
Magnus Heurlin
Lincoln J. Lauhon
Magnus T. Borgström
Jesper Wallentin
Publikationsdatum
21.06.2020
Verlag
Tsinghua University Press
Erschienen in
Nano Research / Ausgabe 9/2020
Print ISSN: 1998-0124
Elektronische ISSN: 1998-0000
DOI
https://doi.org/10.1007/s12274-020-2878-6

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