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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 12/2016

20.10.2016

Investigation of Surface Defects in AlInSb Metamorphic Buffer (MB) Grown on GaSb

verfasst von: Sadhvikas Addamane, Darryl Shima, Amy Lili Soudachanh, Christopher Hains, Ralph Dawson, Ganesh Balakrishnan

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 12/2016

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Metadaten
Titel
Investigation of Surface Defects in AlInSb Metamorphic Buffer (MB) Grown on GaSb
verfasst von
Sadhvikas Addamane
Darryl Shima
Amy Lili Soudachanh
Christopher Hains
Ralph Dawson
Ganesh Balakrishnan
Publikationsdatum
20.10.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 12/2016
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-016-5032-1

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