Skip to main content

2017 | OriginalPaper | Buchkapitel

kNN Classification with an Outlier Informative Distance Measure

verfasst von : Gautam Bhattacharya, Koushik Ghosh, Ananda S. Chowdhury

Erschienen in: Pattern Recognition and Machine Intelligence

Verlag: Springer International Publishing

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Classification accuracy of the kNN algorithm is found to be adversely affected by the presence of outliers in the experimental datasets. An outlier score based on rank difference can be assigned to the points in these datasets by taking into consideration the distance and density of their local neighborhood points. In the present work, we introduce a generalized outlier informative distance measure where a factor based on the above score is used to modulate any potential distance function. Properties of the new outlier informative distance measure are presented. Experiments on several numeric datasets in the UCI machine learning repository clearly reveal the effectiveness of the proposed formulation.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
2.
Zurück zum Zitat Ben-Gal, I.: Outlier detection. In: Maimon, O., Rokach, L. (eds.) Data Mining and Knowledge Discovery Handbook, pp. 131–146. Springer, Boston (2005)CrossRef Ben-Gal, I.: Outlier detection. In: Maimon, O., Rokach, L. (eds.) Data Mining and Knowledge Discovery Handbook, pp. 131–146. Springer, Boston (2005)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat Bhattacharya, G., Ghosh, K., Chowdhury, A.S.: An affinity-based new local distance function and similarity measure for kNN algorithm. Pattern Recogn. Lett. 33(3), 356–363 (2012)CrossRef Bhattacharya, G., Ghosh, K., Chowdhury, A.S.: An affinity-based new local distance function and similarity measure for kNN algorithm. Pattern Recogn. Lett. 33(3), 356–363 (2012)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat Bhattacharya, G., Ghosh, K., Chowdhury, A.S.: Outlier detection using neighborhood rank difference. Pattern Recogn. Lett. 60–61, 24–31 (2015)CrossRef Bhattacharya, G., Ghosh, K., Chowdhury, A.S.: Outlier detection using neighborhood rank difference. Pattern Recogn. Lett. 60–61, 24–31 (2015)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat Breunig, M.M., Kriegel, H.P., Ng, R.T., Sander, J.: LOF: identifying density-based local outliers. In: Proceedings of the ACM International Conference on Management of Data (SIGMOD), Dallas, TX, pp. 93–104 (2000) Breunig, M.M., Kriegel, H.P., Ng, R.T., Sander, J.: LOF: identifying density-based local outliers. In: Proceedings of the ACM International Conference on Management of Data (SIGMOD), Dallas, TX, pp. 93–104 (2000)
6.
Zurück zum Zitat Chandola, V., Banerjee, A., Kumar, V.: Anomaly detection: A survey. ACM Comput. Surv. 41(3), 15:1–15:58 (2009) Chandola, V., Banerjee, A., Kumar, V.: Anomaly detection: A survey. ACM Comput. Surv. 41(3), 15:1–15:58 (2009)
7.
Zurück zum Zitat Chawla, S., Hand, D., Dhar, V.: Outlier detection special issue. Data Min. Knowl. Discov. 20(2), 189–190 (2010)CrossRefMathSciNet Chawla, S., Hand, D., Dhar, V.: Outlier detection special issue. Data Min. Knowl. Discov. 20(2), 189–190 (2010)CrossRefMathSciNet
8.
Zurück zum Zitat Chen, Y., Miao, D., Zhang, H.: Neighborhood outlier detection. Expert Syst. Appl. 37, 8745–8749 (2010)CrossRef Chen, Y., Miao, D., Zhang, H.: Neighborhood outlier detection. Expert Syst. Appl. 37, 8745–8749 (2010)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat Cover, T.M., Hart, P.E.: Nearest neighbor pattern classification. IEEE Trans. Inf. Theor. 13, 21–27 (1967)CrossRefMATH Cover, T.M., Hart, P.E.: Nearest neighbor pattern classification. IEEE Trans. Inf. Theor. 13, 21–27 (1967)CrossRefMATH
10.
Zurück zum Zitat Huang, H., Mehrotra, K., Mohan, C.K.: Rank-based outlier detection. J. Stat. Comput. Simul. 83(3), 518–531 (2013)CrossRefMathSciNet Huang, H., Mehrotra, K., Mohan, C.K.: Rank-based outlier detection. J. Stat. Comput. Simul. 83(3), 518–531 (2013)CrossRefMathSciNet
11.
Zurück zum Zitat Tang, J., Chen, Z., Fu, A.W., Cheung, D.W.: Enhancing effectiveness of outlier detections for low density patterns. In: Chen, M.-S., Yu, P.S., Liu, B. (eds.) PAKDD 2002. LNCS (LNAI), vol. 2336, pp. 535–548. Springer, Heidelberg (2002). doi:10.1007/3-540-47887-6_53 CrossRef Tang, J., Chen, Z., Fu, A.W., Cheung, D.W.: Enhancing effectiveness of outlier detections for low density patterns. In: Chen, M.-S., Yu, P.S., Liu, B. (eds.) PAKDD 2002. LNCS (LNAI), vol. 2336, pp. 535–548. Springer, Heidelberg (2002). doi:10.​1007/​3-540-47887-6_​53 CrossRef
Metadaten
Titel
kNN Classification with an Outlier Informative Distance Measure
verfasst von
Gautam Bhattacharya
Koushik Ghosh
Ananda S. Chowdhury
Copyright-Jahr
2017
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69900-4_3

Premium Partner