Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben

2019 | Buch

Kurze Entwicklungsgeschichte der Mikroskopie Kapitel lesen Erstes Kapitel lesen

Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie

Techniken, Stand, Anwendungen, Perspektiven

verfasst von: Prof. Dr. Goerg H. Michler

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden

Buchreihe : essentials

Enthalten in: Springer Professional "Wirtschaft+Technik" , Springer Professional "Technik"

Einloggen, um Zugang zu erhalten
insite
SUCHEN

Über dieses Buch

Goerg Michler fasst das große Gebiet der Elektronenmikroskopie zusammen und stellt die verschiedenen Techniken übersichtlich dar. Der Autor beschreibt anschaulich die Einsatzmöglichkeiten der Mikroskopie und die Anforderungen an eine Probenpräparation. Mit Bildbeispielen aus der Praxis illustriert er die Darstellungen.

Der Autor:

Prof. Dr. rer. nat. habil. Goerg H. Michler war Leiter des Instituts für Werkstoffwissenschaften an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, ist Ehrenvorsitzender des Instituts für Polymerwerkstoffe e.V. und Vorsitzender der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie.

Inhaltsverzeichnis

Frontmatter
Kapitel 1. Kurze Entwicklungsgeschichte der Mikroskopie
Zusammenfassung
Historischer Überblick zur Entwicklung der Lichtmikroskopie und die frühen Jahre der Elektronenmikroskopie; Abbésche Formel zur Auflösung von Mikroskopen.
Goerg H. Michler
Kapitel 2. Richtungen der Elektronenmikroskopie
Zusammenfassung
Übersicht zu den Hauptrichtungen der Elektronenmikroskopie und zu den Anforderungen an die zu untersuchenden Proben. Darstellung der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) einschließlich der Höchstspannungs-TEM, Höchstauflösungs-TEM und Analytischen TEM, der Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie (REM), der Emissions-Elektronenmikroskopie und der Rastersondenmikroskopie, jeweils mit Beschreibung der Kontrastentstehung in den Aufnahmen und illustriert durch charakteristische Bildbeispiele. Ein Hinweis auf die in-situ Mikroskopie schließt das Kapitel ab.
Goerg H. Michler
Kapitel 3. Probenpräparationen
Zusammenfassung
Beginnend mit einem Überblick zu den Hauptlinien der Präparation kompakter Materialien für die verschiedenen Mikroskopieverfahren werden die Ätztechniken einschließlich der Focused-Ion-Beam Technik und die (Kryo-)Ultramikrotomie mit einigen Möglichkeiten zur räumlichen Strukturanalyse (3D-Analyse) umrissen. Für eine oftmals notwendige Verbesserung des Kontrastes der interessierenden Strukturen werden chemische und physikalische Probenbehandlungen genannt.
Goerg H. Michler
Kapitel 4. Bildverarbeitung und Bildsimulation
Zusammenfassung
Bildverarbeitung und Bildanalyse dienen einer verbesserten Darstellung von Strukturen und deren quantitativen Auswertung einschließlich der räumlichen Strukturanalyse. Methoden der Bildsimulation sind insbesondere zur Interpretation von Höchstauflösungsaufnahmen erforderlich.
Goerg H. Michler
Kapitel 5. Ausblick
Zusammenfassung
Das abschließende Kapitel weist auf zukünftige Anforderungen bei der Präparation und der mikroskopischen Untersuchung hin.
Goerg H. Michler
Backmatter
Metadaten
Titel
Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie
verfasst von
Prof. Dr. Goerg H. Michler
Copyright-Jahr
2019
Electronic ISBN
978-3-658-26688-2
Print ISBN
978-3-658-26687-5
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-26688-2

Neuer Inhalt

    Bildnachweise