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Erschienen in:
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2019 | OriginalPaper | Buchkapitel

2. Richtungen der Elektronenmikroskopie

verfasst von : Goerg H. Michler

Erschienen in: Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden

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Zusammenfassung

Übersicht zu den Hauptrichtungen der Elektronenmikroskopie und zu den Anforderungen an die zu untersuchenden Proben. Darstellung der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) einschließlich der Höchstspannungs-TEM, Höchstauflösungs-TEM und Analytischen TEM, der Techniken der Raster-Elektronenmikroskopie (REM), der Emissions-Elektronenmikroskopie und der Rastersondenmikroskopie, jeweils mit Beschreibung der Kontrastentstehung in den Aufnahmen und illustriert durch charakteristische Bildbeispiele. Ein Hinweis auf die in-situ Mikroskopie schließt das Kapitel ab.

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Fußnoten
1
Die Crazes sind lokale Deformationszonen von einigen 100 nm Dicke und mehreren µm Länge, die wesentlich die Bruchzähigkeit bewirken.
 
2
Versetzungen sind linienhafte Kristallbaufehler und Träger der plastischen Verformung von Kristallen.
 
Metadaten
Titel
Richtungen der Elektronenmikroskopie
verfasst von
Goerg H. Michler
Copyright-Jahr
2019
Buch
Kompakte Einführung in die Elektronenmikroskopie

Print ISBN: 978-3-658-26687-5

Electronic ISBN: 978-3-658-26688-2

Copyright-Jahr: 2019

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-26688-2_2

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    Bildnachweise