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Erschienen in: Journal of Materials Science 23/2007

01.12.2007 | Interface Science

Wetting and reaction between Si droplet and SiO2 substrate

verfasst von: Hideyuki Kanai, Sunao Sugihara, Hiroshi Yamaguchi, Tomonori Uchimaru, Naoyuki Obata, Toshiyuki Kikuchi, Fusaki Kimura, Masato Ichinokura

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 23/2007

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Abstract

The wetting and reaction between Si melt and SiO2 substrate were investigated as a function of the atmosphere, temperature, and degree of vacuum. The results revealed that below 2 Torr with an Ar flow, the wetting angle is finally 90°. The Si droplet was stationary at a wetting angle of 90°. Videos indicated that the droplets moved and vibrated; Above 20 Torr, the Si droplet vibrated up and down with a frequency of approximately 2 Hz, thereby changing the wetting angle. Further, the droplet remained stationary on a substrate on which grooves with a width of 100 μm and depth of 100 μm were etched with a pitch of 1 mm. The presence of grooves or dimples on the substrates facilitated the leakage of SiO gas; as a result, the Si droplet did not vibrate. A vibration model was proposed in which the SiO gas produced at the interface between the Si droplet and the substrate according to the reaction Si + SiO = 2SiO expands and leaks continuously.

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Literatur
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Metadaten
Titel
Wetting and reaction between Si droplet and SiO2 substrate
verfasst von
Hideyuki Kanai
Sunao Sugihara
Hiroshi Yamaguchi
Tomonori Uchimaru
Naoyuki Obata
Toshiyuki Kikuchi
Fusaki Kimura
Masato Ichinokura
Publikationsdatum
01.12.2007
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 23/2007
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-007-2090-z

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