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Erschienen in: Journal of Materials Science 10/2009

01.05.2009

Microstructure, electrical properties of CeO2-doped (K0.5Na0.5)NbO3 lead-free piezoelectric ceramics

verfasst von: Daojiang Gao, K. W. Kwok, Dunmin Lin, H. L. W. Chan

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 10/2009

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Abstract

CeO2-doped K0.5Na0.5NbO3 lead-free piezoelectric ceramics have been fabricated by a conventional ceramic fabrication technique. The ceramics retain the orthorhombic perovskite structure at low doping levels (<1 mol.%). Our results also demonstrate that the Ce-doping can suppress the grain growth, promote the densification, decrease the ferroelectric–paraelectric phase transition temperature (TC), and improve the dielectric and piezoelectric properties. For the ceramic doped with 0.75 mol.% CeO2, the dielectric and piezoelectric properties become optimum: piezoelectric coefficient d33 = 130 pC/N, planar electromechanical coupling coefficient kp = 0.38, relative permittivity εr = 820, and loss tangent tanδ = 3%.

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Metadaten
Titel
Microstructure, electrical properties of CeO2-doped (K0.5Na0.5)NbO3 lead-free piezoelectric ceramics
verfasst von
Daojiang Gao
K. W. Kwok
Dunmin Lin
H. L. W. Chan
Publikationsdatum
01.05.2009
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 10/2009
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-009-3314-1

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