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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 12/2003

01.12.2003 | Special Issue Paper

Comparisons of experimental and computed crystal rotations caused by slip in crept and thermomechanically fatigued dual-shear eutectic Sn-Ag solder joints

verfasst von: A. U. Telang, T. R. Bieler, D. E. Mason, K. N. Subramanian

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 12/2003

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Metadaten
Titel
Comparisons of experimental and computed crystal rotations caused by slip in crept and thermomechanically fatigued dual-shear eutectic Sn-Ag solder joints
verfasst von
A. U. Telang
T. R. Bieler
D. E. Mason
K. N. Subramanian
Publikationsdatum
01.12.2003
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 12/2003
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-003-0115-1

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