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Nano Research
Erschienen in: Nano Research 9/2013

01.09.2013 | Research Article

In situ Raman spectroscopy of topological insulator Bi2Te3 films with varying thickness

verfasst von: Chunxiao Wang, Xiegang Zhu, Louis Nilsson, Jing Wen, Guang Wang, Xinyan Shan, Qing Zhang, Shulin Zhang, Jinfeng Jia, Qikun Xue

Erschienen in: Nano Research | Ausgabe 9/2013

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Metadaten
Titel
In situ Raman spectroscopy of topological insulator Bi2Te3 films with varying thickness
verfasst von
Chunxiao Wang
Xiegang Zhu
Louis Nilsson
Jing Wen
Guang Wang
Xinyan Shan
Qing Zhang
Shulin Zhang
Jinfeng Jia
Qikun Xue
Publikationsdatum
01.09.2013
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
Nano Research / Ausgabe 9/2013
Print ISSN: 1998-0124
Elektronische ISSN: 1998-0000
DOI
https://doi.org/10.1007/s12274-013-0344-4

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