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Journal of Materials Science
Erschienen in: Journal of Materials Science 14/2006

01.07.2006

Interfacial structure in silicon nitride sintered with lanthanide oxide

verfasst von: C. Dwyer, A. Ziegler, N. Shibata, G. B. Winkelman, R. L. Satet, M. J. Hoffmann, M. K. Cinibulk, P. F. Becher, G. S. Painter, N. D. Browning, D. J. H. Cockayne, R. O. Ritchie, S. J. Pennycook

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 14/2006

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Abstract

Three independent research groups present a comparison of their structural analyses of prismatic interfaces in silicon nitride densified with the aid of lanthanide oxide Ln2O3. All three groups obtained scanning transmission electron microscope images which clearly reveal the presence of well-defined Ln segregation sites at the interfaces, and, moreover, reveal that these segregation sites are element-specific. While some results differ across the three research groups, the vast majority exhibits good reproducibility.
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Metadaten
Titel
Interfacial structure in silicon nitride sintered with lanthanide oxide
verfasst von
C. Dwyer
A. Ziegler
N. Shibata
G. B. Winkelman
R. L. Satet
M. J. Hoffmann
M. K. Cinibulk
P. F. Becher
G. S. Painter
N. D. Browning
D. J. H. Cockayne
R. O. Ritchie
S. J. Pennycook
Publikationsdatum
01.07.2006
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 14/2006
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-006-0152-2

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